Rentowności polskiego długu wynoszą 2,978% w przypadku obligacji 10-letnich.
Wydarzenia ostatnich godzin przyniosły dość wyraźny spadek wyceny polskiego złotego oraz większości waluty zaliczanych do koszyka CEE oraz EM. Złoty przez większą część wczorajszej sesji pozostawał relatywnie stabilny w oczekiwaniu na impulsy z szerokiego rynku. Podczas sesji w USA doszło jednak do skokowego umocnienia kwotowań amerykańskiej waluty, co negatywnie przełożyło się na wyceny bardziej ryzykownych aktywów. D. Lockhart z FED Atlanta dość niespodziewanie udzielił wywiadu (WSJ), w którym wyraża poparcie dla podwyżki stóp przez FED już we wrześniu. Temat zacieśniania polityki monetarnej w USA stanowi obecnie główny czynnik podażowy na większości waluty EM, w tym PLN. Podwyżki stóp przez FED krótkoterminowo doprowadzą do spadku atrakcyjności inwestycji w waluty EM z fundamentalnego punktu widzenia. W konsekwencji spadki na wycenie PLN podczas sesji amerykańskiej spowodowały pogorszenie układu technicznego wokół polskiej waluty. Uwaga rynków skupiać się będzie aktualnie na piątkowych danych z amerykańskiego rynku pracy, a lokalne wydarzenia jak czwartkowa aukcja długu (2-4 mld PLN) zostaną najprawdopodobniej zepchnięte na dalszy plan.
W trakcie dzisiejszej sesji brak jest bardziej znaczących publikacji makroekonomicznych z kraju. Otrzymamy jednak pakiet danych dot. usługowych indeksów PMI ze Strefy Euro oraz popołudniowe dane makroekonomiczne z USA dot. m.in. handlu zagranicznego, wniosków o kredyt czy wstępnej sytuacji na tamtejszym rynku pracy (raport ADP). Szczególnie istotnym wydaje się ostatnia pozycja, która może ustalić oczekiwania co do piątkowych NFP.
Z rynkowego punktu widzenia wczorajsza sesja zmieniła układ techniczny na parach związanych z PLN. Na EUR/PLN doszło do wybicia górą z ostatniej konsolidacji, a USD/PLN mierzy się z oporem na 3,8568 PLN, który oddziela nas od ostatnich 5-miesięcznych szczytów na tej parze. Również układ na CHF/PLN wskazuje na potencjalną kontynuację ruchu wzrostowego i powrót do okolic 4,00 PLN.
